Zaawansowany model do obrazowania w podczerwieni (IR imaging) w nanoskali oraz spektroskopii nano-FTIR (nano-FTIR spectroscopy):
IR-neaSCOPE+s – umożliwia obrazowanie w podczerwieni (IR imaging) w nanoskali oraz spektroskopię nano-FTIR (nano-FTIR spectroscopy) poprzez wykrywanie światła rozproszonego na standardowej igle AFM
IR-neaSCOPE+s służy do pełnej analizy chemicznej i mapowania pola z rozdzielczością przestrzenną 10 nm. Wykorzystuje technologie mikroskopii pola bliskiego do pomiaru absorpcji i odbicia promieniowania podczerwonego, a także amplitudy i fazy lokalnych pól elektromagnetycznych. Umożliwia obrazowanie w podczerwieni (IR imaging) w nanoskali, spektroskopię punktową i analizę hiperspektralną przy użyciu źródeł światła CW, jak również spektroskopię nano-FTIR przy użyciu laserów szerokopasmowych i źródeł synchrotronowych. IR-neaSCOPE+s sprawdza się zarówno w analizie materiałów organicznych, jak i nieorganicznych, zapewniając szeroki zakres zastosowań oraz najnowsze technologie pola bliskiego, takie jak ilościowe pomiary s-SNOM lub pomiary podpowierzchniowe.