Solartron MaterialsLab XM to system pomiarowy, zaprojektowany do wszechstronnych badań materiałów inżynierskich. MaterialsLab szczególnie dedykowany jest aplikacjom wymagającym wysokiej precyzji w zakresie charakteryzowania właściwości dielektrycznych materiałów, a także prowadzenia analiz elektrochemicznych, takich jak badania korozji, charakteryzowanie ogniw paliwowych czy akumulatorów.

• Maksymalne napięcie: ±8 V
• Maksymalny prąd: ±100 mA
• Zakres impedancji: od 1 mOhm do 1 TOhm
• Pomocniczy port pomiarowy do zsynchronizowanego pomiaru przetworników optycznych, mechanicznych lub innych.
• Natychmiastowe przełączanie między pomiarami w domenie czasu (IV, szybkie impulsy) i AC (C-V, impedancja, Mott-Schottky) bez zmiany połączeń próbek
• Zakres częstotliwości FRA: od 10µHz do 1MHz
• Opcjonalne kriostaty/piece do badań materiałów w kontrolowanej temperaturze