MaterialsLab XM
Solartron MaterialsLab XM to system pomiarowy, zaprojektowany do wszechstronnych badań materiałów inżynierskich. MaterialsLab szczególnie dedykowany jest aplikacjom wymagającym wysokiej precyzji w zakresie charakteryzowania właściwości dielektrycznych materiałów, a także prowadzenia analiz elektrochemicznych, takich jak badania korozji, charakteryzowanie ogniw paliwowych czy akumulatorów.
- Maksymalne napięcie: ±8 V
- Maksymalny prąd: ±100 mA
- Zakres impedancji: od 1 mOhm do 1 TOhm
- Pomocniczy port pomiarowy do zsynchronizowanego pomiaru przetworników optycznych, mechanicznych lub innych.
- Natychmiastowe przełączanie między pomiarami w domenie czasu (IV, szybkie impulsy) i AC (C-V, impedancja, Mott-Schottky) bez zmiany połączeń próbek
- Zakres częstotliwości FRA: od 10µHz do 1MHz
- Opcjonalne kriostaty/piece do badań materiałów w kontrolowanej temperaturze
- Solartron Analytical (AMETEK SI)
- Elektrochemia
Kontakt
Piotr CZERWIŃSKI
przykładowe dostępne produkty producenta
System do analiz fotoelektrochemicznych ModuLab XM Photoelectrochemical Test System
Solartron ModuLab XM Photoelectrochemical Test System to zaawansowane narzędzie przeznaczone do przeprowadzania testów fotoelektrochemicznych.
Systemy do analiz elektrochemicznych SolarLab XM
Systemy do badania właściwości elektrochemicznych i fotochemicznych materiałów
