SEM DISS6
Kontroler skanowania SEM DISS6 generuje konwencjonalne skany prostokątne (rastrowe) i punktowe (wektorowe) i jest w stanie jednocześnie pozyskać sygnał przy pomocy 4 analogowych i 12 cyfrowych wejść. Dzięki minimalnemu czasowi oczekiwania (dwell time) pikseli wynoszącemu 10 ns i rozdzielczości do 500 megapikseli zapewnia wyjątkową wydajność.
Kluczowe cechy:
- Skalibrowana digitalizacja sygnału 16-bitowego
- Standardowe 4x jednoczesne wejścia sygnału SEM
- Dodano 8x jednoczesnych wejść dla przedwzmacniaczy in-situ
- Niezależna regulacja jasności i kontrastu dla każdego sygnału
- Software Development Kit (SDK) z interfejsem API i aplikacjami demonstracyjnymi
- Programowa kontrola wszystkich parametrów skanowania i akwizycji
- Obsługuje formaty plików graficznych TIF, JPG, PNG, „plain text”
- Integracja metadanych – osadza znaczniki XMP dla wszystkich parametrów kontrolnych w nagłówku obrazu
- point electronic
- Nowe życie systemów i urządzeń
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
- Analiza składu chemicznego
Kontakt
dr Sergij CHUSNUTDINOW
Karta produktu
Pobierz dokument
przykładowe dostępne produkty producenta
SEM DISS6
System Digital Imaging Scanning System (DISS) 6 generacji stanowi najnowocześniejsze rozwiązanie w generowaniu skanów i pozyskiwaniu obrazów dla SEM
Wysokotemperaturowy detektor BSE
Wysokotemperaturowy detektor BSE firmy point electronic GmbH to oparty na elektrodach 4Q detektor z wbudowanym polaryzowaniem do wysokotemperaturowej mikroskopii in-situ.
System topografii BSE
System topografii BSE firmy point electronic to nowoczesne rozwiązanie do analizy cech powierzchni na poziomie mikro- i nanoskali.
System Analizy Elektrycznej dla TEM
System Analizy Elektrycznej dla transmisyjnych mikroskopów elektronowych (TEM) oferuje płynną integrację z pełną kontrolą oprogramowania i jest kompatybilny ze wszystkimi mikroskopami TEM wyposażonymi w zewnętrzny interfejs skanowania
