Skaningowy mikroskop elektrochemiczny VersaSCAN to urządzenie, które integruje system pozycjonowania, instrumenty pomiarowe i sondę dostarczającą lokalne informacje elektrochemiczne o badanym materiale czy roztworze. Tradycyjne eksperymenty elektrochemiczne mierzą średnią odpowiedź na całym interfejsie elektroda-elektrolit, podczas gdy próbki często składają się z miejsc o charakterze pasywnym lub aktywnym oraz miejsc o charakterze anodowym lub katodowym.

Platforma VersaSCAN oferuje możliwość wykorzystania systemu pozycjonowania i oprogramowania jako bazy dla różnych technik skanujących, w tym:

• Constant Distance SECM – technika umożliwiająca pomiary w próbkach biologicznych lub próbkach o nierównomiernej powierzchni. Specjalnie zaprojektowana, elastyczna elektroda chroni zarówno próbki, jak i układ pomiarowy przed uszkodzeniami.
• Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy (LEIS) – lokalne pomiary z wykorzystaniem elektrochemicznej spektroskopii impedancyjnej pozwalają na określenie miejscowych szybkości procesów zachodzących w badanej elektrodzie;
• Scanning Vibrating Electrode Technique (SVET) – technika wibrującej sondy pozwala zaobserwować spadek napięcia w roztworze, który jest wynikiem występowania lokalnego prądu na powierzchni próbki. Analiza tego spadku napięcia pozwala określać procesy korozyjne występujące na powierzchni materiału;
• Scanning Kelvin Probe Microscope (SKP) – skanująca sonda Kelvina umożliwia określenie względnej różnicy funkcji pracy między sondą, a materiałem. Różnica ta może zostać skorelowana z potencjałem korozji. Technika pozwala również na wizualizację topografii próbki poprzez przyłożenie napięcia odniesienia i określenie pojemności pomiędzy powierzchniami sondy i próbki (równanie kondensatora);
• Scanning Droplet Cell (SDC) – analiza elektrochemiczna zachodzi tylko w obszarze kontaktu kropli elektrolitu z próbką. Zastosowanie pompy perystaltycznej pozwala uniknąć zaburzenia pomiarów poprzez powstałe w obrębie kropli produkty reakcji;
• Non-contact Optical Surface Profiler – technika pomocnicza, pozwalająca na wizualizację topografii powierzchni próbki z wykorzystaniem lasera