Menu

Karta produktu

Pobierz dokument

przykładowe dostępne produkty producenta

Nanolog

Spektrofluorometr modułowy do nanotechnologii

Czytaj więcej
Ultima Expert

Wysokorozdzielczy optyczny spektrometr emisyjny ze wzbudzeniem w plazmie indukcyjnie sprzężonej (HR-ICP-OES)

Czytaj więcej
Elipsometria spektroskopowa

Najbardziej odpowiednia technika do charakteryzacji cienkich warstw

Czytaj więcej
Partica - pomiar rozkładu wielkości i kształtu cząstek

Przełomowy system typu „wszystko w jednym”, łączący klasyczną dyfrakcję laserową z dynamiczną analizą obrazu. Urządzenie pozwala na jednoczesny pomiar rozkładu wielkości cząstek oraz ich morfologii (kształtu).

Czytaj więcej
Zobacz wszystkie produkty HORIBA Scientific
Twoja prywatność

Ta strona używa ciasteczek (cookies). Możesz zmienić ustawienia przechowywania plików cookies w Twojej przeglądarce.
[ Dowiedz się więcej ]

Akceptuję