Platforma optyczna AFM
Platforma AFM umożliwia w pełni zintegrowane wykorzystanie konfokalnej mikroskopii Ramana i AFM do spektroskopii optycznej ze wzmocnieniem „tipem” (takiej jak Tip-Enhanced Optical Spectroscopy (TERS) i Tip-Enhanced PhotoLuminescence (TEPL)).
Niezliczone techniki AFM, które umożliwiają badanie właściwości topograficznych, elektrycznych i mechanicznych, mogą być wykonywane razem z dowolnym źródłem laserowym dostępnym w spektrometrze Ramana lub innym zewnętrznym oświetleniem (np. symulatorem światła słonecznego lub innym przestrajalnym lub ciągłym źródłem). TERS i TEPL mogą dostarczać informacji chemicznych i strukturalnych w nanoskali, czyniąc platformę AFM-Raman systemem dwukierunkowym, na którym uzupełniające się techniki zapewniają sobie nawzajem nowe i unikalne możliwości obrazowania.
Oferowane modele mikroskopów sił atomowych:
- SignatureSPM
- SmartSPM
- OmegaScope
- TRIOS
- Spektrometry NanoRaman
- HORIBA Scientific
- Analiza składu chemicznego
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
- Nauki przyrodnicze
Kontakt
przykładowe dostępne produkty producenta
Fluorolog QM
Seria modułowych spektrofluorometrów klasy badawczej Fluorolog-QM™ to czwarta generacja światowej sławy spektrofluorometrów HORIBA Fluorolog
Fluoromax Plus
Seria kompaktowych spektrofluorometrów do pomiarów fluorescencji i fosforescencji
Elipsometria spektroskopowa
Najbardziej odpowiednia technika do charakteryzacji cienkich warstw
Spektrometr GD-Profiler 2
Spektrometr GD-Profiler 2: Kompleksowe Rozwiązanie do Analizy Powierzchni
