S neox Grand Format
Sensofar S neox Grand Format to zaawansowany, wysokowydajny system optycznej profilometrii 3D, zaprojektowany specjalnie do precyzyjnych pomiarów dużych elementów w przemysłowych zastosowaniach, m.in. w produkcji elementów półprzewodnikowych, wyświetlaczy, czy płytek PCB. System łączy w sobie nanometryczną precyzję, duży zasięg pomiarowy i pełną integrację z oprogramowaniem metrologicznym.
Duży obszar pomiarowy bez ograniczeń wagowych
S neox Grand Format dysponuje obszarem roboczym aż 600 × 600 mm i może poruszać się z prędkością do 1 m/s, co umożliwia szybkie skanowanie bardzo dużych powierzchni bez konieczności ograniczania rozmiaru oraz wagi próbek.
Technologia pomiarowa „3‑w‑1”
System wykorzystuje trzy zaawansowane technologie pomiarowe: interferometrię, konfokalną mikroskopię 3D oraz AI Focus Variation, które automatycznie dobierane są do charakterystyki badanej powierzchni, dając najlepsze wyniki pomiarowe w różnych aplikacjach.
Certyfikowany do zastosowań przemysłowych i cleanroom’ów
S neox Grand Format został zaprojektowany do pracy w środowiskach produkcyjnych o wysokich wymaganiach — spełnia standardy SEMI S2 i S8 oraz posiada certyfikację TÜV Rheinland, a głowica pomiarowa jest kompatybilna z ISO Class 1 Cleanroom.
Zaawansowane oprogramowanie Sensofar
System obsługiwany jest przez intuicyjne oprogramowanie SensoSCAN, wspierające automatyzację pomiarów, wraz z pakietami SensoPRO (analiza i automatyzacja) oraz SensoVIEW (zaawansowana analiza danych), co przyspiesza proces pomiarowy i analizę wyników.
S neox Grand Format to zaawansowany system pomiarowy stworzony z myślą o precyzyjnej analizie dużych i złożonych komponentów. Doskonale sprawdza się w zastosowaniach, gdzie standardowe rozwiązania nie zapewniają wymaganego zakresu pomiarowego:
- Przemysł półprzewodnikowy – niezawodne pomiary wielkoformatowych paneli oraz newralgicznych podłoży
- Technologie wyświetlaczy LCD/OLED – szczegółowe mapowanie topografii ekranów
- Produkcja płytek PCB – dokładna analiza geometrii i równomierności powierzchni
- Działy kontroli jakości oraz B+R – realizacja zaawansowanych projektów badawczych i inspekcyjnych wymagających ponadstandardowych możliwości pomiarowych.
Typowe obszary zastosowań
- materiałownawstwo,
- półprzewodniki, MEMS i elektronika,
- przemysł precyzyjny i mikromechanika,
- medycyna i urządzenia biomedyczne,
- kontrola jakości i R&D w nowoczesnej produkcji
- przemysł lotniczy i motoryzacyjny
- baterie i akumulatory
- Sensofar Metrology
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
Kontakt
Karta produktu
przykładowe dostępne produkty producenta
