SEM DISS6
Kontroler skanowania SEM DISS6 generuje konwencjonalne skany prostokątne (rastrowe) i punktowe (wektorowe) i jest w stanie jednocześnie pozyskać sygnał przy pomocy 4 analogowych i 12 cyfrowych wejść. Dzięki minimalnemu czasowi oczekiwania (dwell time) pikseli wynoszącemu 10 ns i rozdzielczości do 500 megapikseli zapewnia wyjątkową wydajność.
Kluczowe cechy:
- Skalibrowana digitalizacja sygnału 16-bitowego
- Standardowe 4x jednoczesne wejścia sygnału SEM
- Dodano 8x jednoczesnych wejść dla przedwzmacniaczy in-situ
- Niezależna regulacja jasności i kontrastu dla każdego sygnału
- Software Development Kit (SDK) z interfejsem API i aplikacjami demonstracyjnymi
- Programowa kontrola wszystkich parametrów skanowania i akwizycji
- Obsługuje formaty plików graficznych TIF, JPG, PNG, „plain text”
- Integracja metadanych – osadza znaczniki XMP dla wszystkich parametrów kontrolnych w nagłówku obrazu
- point electronic
- Nowe życie systemów i urządzeń
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
- Analiza składu chemicznego
Kontakt
dr Sergij CHUSNUTDINOW
Karta produktu
Pobierz dokument
przykładowe dostępne produkty producenta
Detektor Premium BSE
Detektor Premium BSE to wysokowydajny detektor ilościowy na bazie krzemu firmy point electronic GmbH do zastosowań materiałowych, geologicznych i przemysłowych.
System topografii BSE
System topografii BSE firmy point electronic to nowoczesne rozwiązanie do analizy cech powierzchni na poziomie mikro- i nanoskali.
System Analizy Elektrycznej dla TEM
System Analizy Elektrycznej dla transmisyjnych mikroskopów elektronowych (TEM) oferuje płynną integrację z pełną kontrolą oprogramowania i jest kompatybilny ze wszystkimi mikroskopami TEM wyposażonymi w zewnętrzny interfejs skanowania
System Analizy Elektrycznej dla SEM
System Analizy Elektrycznej (EA) dla SEM firmy point electronic to w pełni zintegrowane rozwiązanie kompatybilne z większością systemów SEM i FIB-SEM.
