SU8600
Skaningowy mikroskop elektronowy Hitachi SU8600 FEG UHR z zimną katodą zapewnia rozdzielczość poniżej 1 nm w całym zakresie dostępnych napięć przyspieszających. Nowe detektory oraz ulepszony interfejs oprogramowania umożliwiają łatwe obrazowanie różnych próbek, nawet przy najwyższych powiększeniach. Mikroskop Hitachi SU8600 FEG SEM znajduje zastosowanie w wielu dziedzinach (nanomateriały, półprzewodniki, polimery, biologia), wymagających najwyższej rozdzielczości. Detektory Upper, Top, IMD w obiektywie zapewniają bardzo precyzyjną regulację elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych w zależności od ich energii i kierunku. Najdrobniejsze szczegóły powierzchni są dzięki temu widoczne bez konieczności metalizowania próbek. Komora mikroskopu jest zaprojektowana tak, by jednocześnie pomieścić liczne urządzenia dodatkowe, takie jak systemy airlock, EDS, WDS, EBSD oraz stolik Cryo.
- rozdzielczość – 0.6 nm przy 15kV, 0.7 nm przy 1kV,
- powiększenie –20x to 2 000 000x,
- emiter – zimną katoda z emisją polową (CFEG),
- napięcie przyspieszające – od 0.5 kV do 30.00 kV,
- landing voltage – od 0.01 kV do 20 kV
- prąd wiązki – do 20 nA\
- detektory – wewnątrz kolumnowy detektor elektronów wtórnych (UD) z filtrem ExB oraz detektor elektronów wtórnych i wstecznie rozproszonych (LD); opcjonalni: Top detektor (TD), detektor scyntylacyjny lub półprzewodnikowy typu Out-Column BSED (OCD), 5 - segmentowy półprzewodnikowy detektor wstecznie rozproszonych elektronów (PD-BSED) o wysokiej czułości; wewnątrz kolumnowy detektor elektronów wstecznie rozproszonych (IMD), detektor katodoluminescencji (CL), STEM detektor, EDS, EBSD,
- stolik – napęd silnikowy w 5-ciu osiach (X/Y/R/Z/T),
- maksymalny rozmiar próbki – średnica 150 mm, grubość do 36 mm,
- maksymalna masa próbki – do 300g
- zapisywanie obrazów – 640×480,1.280×960, 2.560×1.920, 5.120×3.840, 10.240×7.680, 20.480×15.360, 40.960×30.720 pixele,
- funkcje automatyczne – automatyczna regulacja jasności i kontrastu (ABCC), automatyczna kontrola ostrości (AFC), automatyczna kontrola astygmatyzmu i ostrości (ASFC), auto start(HV-ON→ABCC→AFC), automatyczna regulacja osi optycznej
- zintegrowana kamera nawigacyjna
- kompatybilność z uchwytem Air Protection
- Hitachi High-Tech
- Analiza składu chemicznego
- Obrazowanie powierzchni i struktury wewnętrznej
Karta produktu
Pobierz dokumentprzykładowe dostępne produkty producenta
SU3800/SU3900
Uniwersalny, skaningowy mikroskop elektronowy wyposażony w wytrzymałą i ekonomiczną katodę wolframową typu hairpin
SU3800SE/SE Plus SU3900SE/SE Plus
Uniwersalny, skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową (FE)
TM4000III/TM4000PlusIII
Nowa generacja stołowych skaningowych mikroskopów elektronowych Hitachi TM4000III i TM4000PlusIII została zaprojektowana, aby sprostać wymaganiom laboratoriów, które potrzebują analizować topografię próbek w skali od milimetrów do submikronów
ArBlade 5000/IM5000
Najbardziej zaawansowany system frezowania jonowego przeznaczony do wytwarzania próbek o wyjątkowo wysokiej jakości.