Menu

przykładowe dostępne produkty producenta

Platforma optyczna AFM

Platforma mikroskopu sił atomowych zaprojektowana do połączenia ze spektroskopią optyczną

Czytaj więcej
Katodoluminescencja, fotoluminescencji i spektroskopia Ramana dla mikroskopii elektronowej

Uniwersalne rozszerzenie CLUE Series firmy HORIBA zwiększa możliwości analityczne mikroskopu SEM o pomiar katodoluminescencji, fotoluminescencji oraz obrazowanie Ramana

Czytaj więcej
Partica - pomiar rozkładu wielkości i kształtu cząstek

Przełomowy system typu „wszystko w jednym”, łączący klasyczną dyfrakcję laserową z dynamiczną analizą obrazu. Urządzenie pozwala na jednoczesny pomiar rozkładu wielkości cząstek oraz ich morfologii (kształtu).

Czytaj więcej
nanoPartica SZ-100V2 - system do charakterystyki nanocząstek

Wszechstronny system do kompleksowej charakterystyki nanocząstek, mierzący wielkość (0,3 nm – 10 µm), potencjał zeta oraz masę cząsteczkową.

Czytaj więcej
Zobacz wszystkie produkty HORIBA Scientific
Twoja prywatność

Ta strona używa ciasteczek (cookies). Możesz zmienić ustawienia przechowywania plików cookies w Twojej przeglądarce.
[ Dowiedz się więcej ]

Akceptuję